Prozessbezogene Diagnosequalität im Kontext von Schullaufbahnentscheidungen
van Ophuysen, S.; Behrmann, L.; Schürer, S.
Forschungsartikel (Buchbeitrag) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Herausgeber*innen: McElvany, N.; Grecu, , A. L.; Lorenz, R.; Becker, M.; Dignath, C.; Gaspard, H.; Lauermann, F.
Buchtitel: Jahrbuch der Schulentwicklung (Band 20)
Seitenbereich: 72-96
Verlag: Beltz Verlag
Erscheinungsort: Weinheim
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2023
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Deutsch
Stichwörter: Grundschulübergang; Prozessbezogene Diagnostik
Autor*innen der Universität Münster
| Behrmann, Lars | Institut für Erziehungswissenschaft (IfE) |
| Schürer, Sina | Institut für Erziehungswissenschaft (IfE) |
| van Ophuysen, Stefanie | Professur für Methoden der empirischen Bildungsforschung (Prof. van Ophuysen) |