Machine Learning for Storage Location Prediction in Industrial High Bay Warehouses
Berns F, Ramsdorf T, Beecks C
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Buchtitel: 1st International Workshop on Industrial Machine Learning at 25th International Conference on Pattern Recognition 2020
Seitenbereich: 650-661
Verlag: Springer
Titel der Reihe: Lecture Notes in Computer Science
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2021 (15.01.2021)
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: 1st International Workshop on Industrial Machine Learning at 25th International Conference on Pattern Recognition 2020, Milano, Italy, undefined
ISBN: 978-3-030-68798-4
Autor*innen der Universität Münster
| Beecks, Christian | Professur für Praktische Informatik (Prof. Beecks) |
| Berns, Fabian | Professur für Praktische Informatik (Prof. Beecks) |