Direct autocorrelation of soft-x-ray free-electron-laser pulses by time-resolved two-photon double ionization of He

Mitzner R, Sorokin AA, Siemer B, Roling S, Rutkowski M, Zacharias H, Neeb M, Noll T, Siewert F, Eberhardt W, Richter M, Juranic P, Tiedtke K, Feldhaus J

Forschungsartikel (Zeitschrift)

Zusammenfassung

The pulse duration of soft x-ray free-electron laser (FEL) radiation is directly measured by time-resolved observation of doubly charged helium ions at 51.8 eV. A wave front splitting autocorrelator produces two correlated FEL pulses with a resolution of better than a femtosecond. In the interesting intensity range from 10(13) to 10(16) W/cm(2) direct and sequential double ionization contribute to the ion yield which has significant influence on the correlation width, being a general feature at high photon energies. Here, a duration of tau(L) = (29 +/- 5) fs is derived for the soft x-ray pulses at FLASH.

Details zur Publikation

FachzeitschriftPhysical Review A (Phys Rev A)
Jahrgang / Bandnr. / Volume80
Ausgabe / Heftnr. / Issue2
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2009 (31.08.2009)
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
DOI10.1103/PhysRevA.80.025402
Stichwörterextreme-ultraviolet radiation regime

Autor*innen der Universität Münster

Roling, Sebastian
Physikalisches Institut (PI)
Arbeitsgruppe Dynamik an Grenzflächen (Prof. Zacharias)
Siemer, Björn
Physikalisches Institut (PI)
Arbeitsgruppe Dynamik an Grenzflächen (Prof. Zacharias)
Zacharias, Helmut
Physikalisches Institut (PI)
Center for Nonlinear Science (CeNoS)
Arbeitsgruppe Dynamik an Grenzflächen (Prof. Zacharias)

Promotionen, aus denen die Publikation resultiert

Zeitaufgelöste Messungen mit ultrakurzen XUV-Pulsen des Freie-Elektronen-Lasers "FLASH"
Promovend*in: Siemer, Björn | Betreuer*innen: Zacharias, Helmut
Zeitraum: 01.06.2006 - 11.07.2012
Promotionsverfahren erfolgt(e) an: Promotionsverfahren an der Universität Münster