Quantitative strain and topography mapping of 2D materials using nanobeam electron diffraction

Sickel, J.; Asbach, M.; Gammer, C.; Bratschitsch, R.; and Kohl, H.

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

Fachzeitschrift: Microscopy and Microanalysis

Jahrgang / Bandnr. / Volume: 28

Ausgabe / Heftnr. / Issue: 3

Seitenbereich: 701-715

Status: Veröffentlicht

Veröffentlichungsjahr: 2022 (01.04.2022)

Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch

Stichwörter: 2D materials; monolayer; NBED; strain; topography

Professur für Experimentalphysik - Festkörper-Quantenoptik/Nanophotonik (Prof. Bratschitsch)