Structural and Thermal Characterisation of Nanofilms by Time-Resolved X-ray Scattering
Plech A, Krause B, Baumbach T, Zakharova M, Eon S, Girmen C, Buth G, Bracht H
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Fachzeitschrift: Nanomaterials
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 9
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2019
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
DOI: 10.3390/nano9040501
Autor*innen der Universität Münster
| Bracht, Hartmut | |
| Eon, Soizic | |
| Eon, Soizic |