Structural and Thermal Characterisation of Nanofilms by Time-Resolved X-ray Scattering

Plech A, Krause B, Baumbach T, Zakharova M, Eon S, Girmen C, Buth G, Bracht H

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftNanomaterials
Jahrgang / Bandnr. / Volume9
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2019
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
DOI10.3390/nano9040501

Autor*innen der Universität Münster

Bracht, Hartmut
Institut für Materialphysik
Eon, Soizic
Professur für Materialphysik (Prof. Wilde)
Eon, Soizic
Professur für Materialphysik (Prof. Wilde)