Fluctuation electron microscopy on silicon amorphized at varying self ion-implantation conditions
Radić D, Hilke S, Peterlechner M, Posselt M, Bracht H
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Fachzeitschrift: Journal of Applied Physics
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 126
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2019
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
DOI: 10.1063/1.5107494
Autor*innen der Universität Münster
| Bracht, Hartmut | |
| Hilke, Sven | |
| Peterlechner, Martin | |
| Radic, Dražen |