Enhanced Sensitivity of Coherent Raman Imaging by a Frequency Modulated Portable Light Source
Brinkmann, Maximilian; Würthwein, Thomas; Hellwig, Tim; Wallmeier, Kristin; Dobner, Sven; Fallnich, Carsten
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Herausgeber*innen: Focus on Microscopy
Buchtitel: Proceedings on the Focus on Microscopy
Seitenbereich: 1-1
Verlag: Focus on Microscopy
Erscheinungsort: Porto
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2021 (31.03.2021)
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: Focus on Microscopy (FOM), Porto, Portugal
Stichwörter: Frequenzmodulation, kohärente Raman-Streuung
Autor*innen der Universität Münster
| Brinkmann, Maximilian | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Dobner, Sven | Institut für Angewandte Physik |
| Fallnich, Carsten | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Hellwig, Tim | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Wallmeier, Kristin | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Würthwein, Thomas | Institut für Angewandte Physik |