Combination of micro X-ray fluorescence spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry imaging for the marker-free detection of CeO2 nanoparticles in tissue sections

Veith L, Dietrich D, Vennemann A, Breitenstein D, Engelhard C, Karst U, Sperling M, Wiemann M, Hagenhoff B

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftJournal of Analytical Atomic Spectrometry
Jahrgang / Bandnr. / Volume33
Ausgabe / Heftnr. / Issue3
Seitenbereich491-501
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2018
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
DOI10.1039/c7ja00325k

Autor*innen der Universität Münster

Dietrich, Dörthe
Professur für Analytische Chemie (Prof. Karst)
Karst, Uwe
Professur für Analytische Chemie (Prof. Karst)
Sperling, Michael
Professur für Analytische Chemie (Prof. Karst)
Veith, Lothar
Professur für Analytische Chemie (Prof. Karst)