Combination of micro X-ray fluorescence spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry imaging for the marker-free detection of CeO2 nanoparticles in tissue sections

Veith L, Dietrich D, Vennemann A, Breitenstein D, Engelhard C, Karst U, Sperling M, Wiemann M, Hagenhoff B

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftJournal of Analytical Atomic Spectrometry
Jahrgang / Bandnr. / Volume33
Ausgabe / Heftnr. / Issue3
Seitenbereich491-501
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2018
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch

Autor*innen der Universität Münster

Dietrich, Dörthe
Karst, Uwe
Sperling, Michael
Veith, Lothar