Thickness determination of MoS2, MoSe2, WS2 and WSe2 on transparent stamps used for deterministic transfer of 2D materials
Taghavi N S, Gant P, Huang P, Niehues I, Schmidt R, Michaelis de Vasconcellos S, Bratschitsch R, García-Hernández M, Frisenda R, and Castellanos-Gomez A
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Fachzeitschrift: Nano Research
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 12
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 7
Seitenbereich: 1691-1695
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2019
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Autor*innen der Universität Münster
| Bratschitsch, Rudolf | Professur für Experimentalphysik - Festkörper-Quantenoptik/Nanophotonik (Prof. Bratschitsch) |
| Michaelis de Vasconcellos, Steffen | Professur für Experimentalphysik - Festkörper-Quantenoptik/Nanophotonik (Prof. Bratschitsch) |
| Niehues, Iris | Professur für Experimentalphysik - Festkörper-Quantenoptik/Nanophotonik (Prof. Bratschitsch) |
| Schmidt, Robert | Professur für Experimentalphysik - Festkörper-Quantenoptik/Nanophotonik (Prof. Bratschitsch) |