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Experimental verification of Raman scattering suppression via ground state depletion for spatial resolution enhancement in label-free microscopy
Rieger Steffen, Fischedick Markus, Boller Klaus-Jochen, Fallnich Carsten
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)
| Peer reviewed
Details zur Publikation
Status:
Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr:
2016 (10.06.2016)
Sprache, in der die Publikation verfasst ist:
Englisch
Konferenz:
CLEO - Conference on Lasers and Electro-Optics
, San Jose, California, USA
Autor*innen der Universität Münster
Fallnich
,
Carsten
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)
Fischedick
,
Markus
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)
Rieger
,
Steffen
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)