Detecting Spring Configurations Errors
von Hof V, Fögen K, Kuchen H
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Herausgeber*innen: Shin Sung Y., Shin Dongwan, Lencastre Maria
Buchtitel: SAC '17 Proceedings of the Symposium on Applied Computing
Verlag: ACM Press
Erscheinungsort: New York, NY, USA
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2017
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: The 32nd ACM Symposium On Applied Computing (SAC '17), Marrakesh, Morocco
ISBN: 978-1-4503-4486-9
Autor*innen der Universität Münster
| Kuchen, Herbert | |
| von Hof, Vincent |