Low-energy electron scattering in carbon-based materials analyzed by scanning transmission electron microscopy and its application to sample thickness determination.
Pfaff M, Müller E, Klein MF, Colsmann A, Lemmer U, Krzyzanek V, Reichelt R, Gerthsen D
Forschungsartikel (Zeitschrift)Zusammenfassung
High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy (HAADF STEM) at low energies (
Details zur Publikation
Fachzeitschrift: Journal of Microscopy
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 243
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 1
Seitenbereich: 31-39
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2011
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Autor*innen der Universität Münster
| Krzyzanek, Vladislav | |
| Reichelt, Rudolf |