Continuous morphology and growth monitoring of different cell types in a single culture using quantitative phase microscopy
Kemper B, Wibbeling J, Kastl L, Schnekenburger J, Ketelhut S
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)Details zur Publikation
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2015
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: SPIE Optical Metrology, Munich
Autor*innen der Universität Münster
| Kastl, Lena | |
| Kemper, Björn | |
| Schnekenburger, Jürgen |