Interlaboratory comparison of XRF analysis on thin films, including alloys, oxides, multilayers, and a lithium-ion battery material

Wählisch, Andre, Streeck, Cornelia, Stenzel Yannick P, Nowak, Sascha, Osenberg, Markus, Manke, Ingo, Fartmann, Michael, Hagenhoff, Birgit, Unterumsberger. Rainer, Wansleben, Malte, Anklamm, Lars, Krämer, Markus, Gawlitza, Peter, Blokhina, Elena, Beckhoff, Burkhard

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftJournal of Analytical Atomic Spectrometry
Jahrgang / Bandnr. / Volumexxx
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2026
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
StichwörterLIBs; TXRF; Round Robin

Autor*innen der Universität Münster

Nowak, Sascha
Stenzel, Yannick Philipp