Comparing Transmission Electron Microscopy (TEM) and Tomographic Atom Probe (TAP) through Measurements of Thin Multilayers

Heil T., Stender P., Schmitz G., Kohl H.

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

Fachzeitschrift: Microscopy and Microanalysis

Jahrgang / Bandnr. / Volume: 13

Ausgabe / Heftnr. / Issue: 3

Seitenbereich: 398-399

Status: Veröffentlicht

Veröffentlichungsjahr: 2007

Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch

Heil, Tobias	Physikalisches Institut (PI)
Kohl, Helmut	Arbeitsgruppe Elektronenmikroskopie (Prof. Kohl)
Schmitz, Guido	Institut für Materialphysik
Stender, Patrick	Institut für Materialphysik