Comparing Transmission Electron Microscopy (TEM) and Tomographic Atom Probe (TAP) through Measurements of Thin Multilayers
Heil T., Stender P., Schmitz G., Kohl H.
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Fachzeitschrift: Microscopy and Microanalysis
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 13
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 3
Seitenbereich: 398-399
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2007
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Autor*innen der Universität Münster
| Heil, Tobias | |
| Kohl, Helmut | |
| Schmitz, Guido | |
| Stender, Patrick |