Comparing Transmission Electron Microscopy (TEM) and Tomographic Atom Probe (TAP) through Measurements of Thin Multilayers
Heil T., Stender P., Schmitz G., Kohl H.
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)Details zur Publikation
Herausgeber*innen: Luysberg M., Tillann K., Weirich T.
Buchtitel: EMC 2008
Seitenbereich: 385-385
Verlag: Springer
Erscheinungsort: Berlin
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2008
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: EUROPEAN MICROSCOPY CONGRESS, Aachen, undefined
Autor*innen der Universität Münster
| Heil, Tobias | Physikalisches Institut (PI) |
| Kohl, Helmut | Arbeitsgruppe Elektronenmikroskopie (Prof. Kohl) |
| Schmitz, Guido | Institut für Materialphysik |
| Stender, Patrick | Institut für Materialphysik |