Atom probe tomography of heterogeneous dielectric materials
Schmitz G. Greiwe G., Oberdorfer C., Stender P.
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Herausgeber*innen: Solorzano G., de Souza W.
Buchtitel: Proceedings of IMC 17
Seitenbereich: 310-310
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2010
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: International Microscopy Congress 17, Rio de Janeiro
Autor*innen der Universität Münster
| Greiwe, Gerd-Hendrik | |
| Oberdorfer, Christian | |
| Schmitz, Guido | |
| Stender, Patrick |