Atom probe tomography of heterogeneous dielectric materials

Schmitz G. Greiwe G., Oberdorfer C., Stender P.

Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewed

Details zur Publikation

Herausgeber*innenSolorzano G., de Souza W.
BuchtitelProceedings of IMC 17
Seitenbereich310-310
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2010
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
KonferenzInternational Microscopy Congress 17, Rio de Janeiro, undefined

Autor*innen der Universität Münster

Greiwe, Gerd-Hendrik
Professur für Materialphysik I (Prof. Schmitz)
Oberdorfer, Christian
Institut für Materialphysik
Schmitz, Guido
Institut für Materialphysik
Stender, Patrick
Institut für Materialphysik