Nanoanalysis of Interfacial Chemistry
Schmitz G, Ene C, Galinski H, Schlesiger R, Stender P
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedZusammenfassung
In recent years atom probe tomography has advanced to an outstanding tool of analyzing interfacial chemistry in nanostructured materials In this article quantitative measurements of the natural width of multilayer interfaces and of segregation at grain boundaries and even at separate triple junctions of the boundary structure are presented and their physical consequences discussed
Details zur Publikation
Fachzeitschrift: Journal of the Minerals, Metals and Materials Society (JOM)
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 62
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 12
Seitenbereich: 58-63
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2010 (31.12.2010)
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Stichwörter: grain-boundary diffusion tomographic atom-probe triple junctions giant magnetoresistance thin-films segregation microstructure interreaction system energy
Autor*innen der Universität Münster
| Schlesiger, Ralf | Institut für Materialphysik |
| Schmitz, Guido | Institut für Materialphysik |
| Stender, Patrick | Institut für Materialphysik |