Teardown and Characterization of Commercial 18650 Sodium Ion Batteries
Fehlings, Nick; Ihlbrock, Lukas; Hesper, Jakob; Buchmann, Julius; Tsoufios, Alexandros; Winter, Martin; Wiemers-Meyer, Simon; Nowak, Sascha
Poster | Peer reviewedDetails zur Publikation
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2025
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Konferenz: The 16th International advanced automotive battery conference, Padova/Venice, Deutschland
Stichwörter: SIB, NIB, Teardown, 18650
Autor*innen der Universität Münster
| Buchmann, Julius Otto | |
| Fehlings, Nick | |
| Hesper, Jakob Michael | |
| Ihlbrock, Lukas | |
| Nowak, Sascha | |
| Tsoufios, Alexandros | |
| Wiemers-Meyer, Simon | |
| Winter, Martin |