Characterising Interlayer Excitons by Spectral Signature in Scattering Visible Near-Field MicroscopyOpen Access

Garrity, O.; Niehues, I.; Bergmann-Iwe, A.; Wróblewska, A.; Pirker, L.; Bukhari,A.; Hlawacek, G.; Korn, T.; Frank, O.; Kusch, P.

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftJournal of Physical Chemistry Letters
Jahrgang / Bandnr. / Volume16
Ausgabe / Heftnr. / Issue27
Seitenbereich6960-6967
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2025
DOI10.1021/acs.jpclett.5c01052
StichwörterNear-field optics; SNOM; 2D Materials; Interlayer excitons

Autor*innen der Universität Münster

Niehues, Iris
Juniorprofessur für Experimentelle Physik (Prof. Niehues)