Depth-resolved and temperature dependent analysis of phase formation processes in Cu–Zn–Sn–Se films on ZnO substrates

Stroth Christiane, Sayed Mohamed H, Schuster Matthias, Ohland Jörg, Hammer-Riedel Ingo, Hammer Maria S, Wellmann Peter, Parisi Jürgen, Gütay Levent

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

Fachzeitschrift: Journal of Materials Science: Materials in Electronics

Jahrgang / Bandnr. / Volume: 28

Status: Veröffentlicht

Veröffentlichungsjahr: 2017

Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch