Inside Back Cover - Mechanistic Understanding of Additive Reductive Degradation and SEI Formation in High-Voltage NMC811||SiOx-Containing Cells via Operando ATR-FTIR Spectroscopy
Weiling, Matthias; Lechtenfeld, Christian; Pfeiffer, Felix; Frankenstein, Lars; Diddens, Diddo; Wang, Jian-Fen; Nowak, Sascha; Baghernejad, Masoud
Nicht-wissenschaftlicher Beitrag (Zeitschrift)Details zur Publikation
Fachzeitschrift: Advanced Energy Materials (Adv. Energy Mater.)
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 14
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 5
Artikelnummer: 2470022
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2024
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
Stichwörter: LIBs
Autor*innen der Universität Münster
| Frankenstein, Lars | |
| Lechtenfeld, Christian-Timo | |
| Nowak, Sascha |