Experimental and theoretical studies on self-diffusion in amorphous germanium
Böckendorf, Tim; Kirschbaum, Jan; Kipke, Felix; Bougeard, Dominique; Hansen, Lundsgaard John; Larsen, Nylandsted Arne; Posselt, Matthias; Bracht, Hartmut
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Fachzeitschrift: AIP Advances
Jahrgang / Bandnr. / Volume: 14
Ausgabe / Heftnr. / Issue: 6
Seitenbereich: 065129null
Status: Veröffentlicht
Veröffentlichungsjahr: 2024 (20.06.2024)
Sprache, in der die Publikation verfasst ist: Englisch
DOI: 10.1063/5.0183578
Link zum Volltext: https://doi.org/10.1063/5.0183578
Stichwörter: SIMS, germanium, semiconductor, diffusion, self-diffusion, amorphous
Autor*innen der Universität Münster
| Böckendorf, Tim | |
| Bracht, Hartmut | |
| Kipke, Felix |