Tobias Südkamp
Für die Person sind keine aktuellen Zugehörigkeiten bekannt. Die Person ist nicht mehr an der Universität aktiv.
Publikationen
Kipke F, Südkamp T, Prüßing J, Bougeard D, Bracht H (2020) In: Journal of Applied Physics, 127. doi:10.1063/1.5134537 Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht | |
Südkamp T., Hamdana G., Descoins M., Mangelinck D., Wasisto H., Peiner E., Bracht H. (2018) In: Journal of Applied Physics, 123(16). doi:10.1063/1.4996987 Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht | |
Hamdana G., Südkamp T., Descoins M., Mangelinck D., Caccamo L., Bertke M., Wasisto H., Bracht H., Peiner E. (2017) In: Microelectronic Engineering, 179(null), 74-82. doi:10.1016/j.mee.2017.04.030 Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht | |
Hamdana G., Bertke M., Südkamp T., Bracht H., Wasisto H., Peiner E. (2017) In: (Hrsg.), . SPIE. doi:10.1117/12.2264995 Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewed | Veröffentlicht | |
Kujala J., Südkamp T., Slotte J., Makkonen I., Tuomisto F., Bracht H. (2016) In: Journal of Physics: Condensed Matter, 28(33). doi:10.1088/0953-8984/28/33/335801 Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht |
Promotionen
| Characterization of atomic transport in nano-structured silicon and germanium to reveal properties of self- and foreign-atom defects Promovend*in: Südkamp, Tobias | Betreuer*innen: Bracht, Hartmut Zeitraum: bis 20.07.2018 Promotionsverfahren erfolgt(e) an: Promotionsverfahren an der Universität Münster |