Tobias Südkamp

Für die Person sind keine aktuellen Zugehörigkeiten bekannt. Die Person ist nicht mehr an der Universität aktiv.

Publikationen

Kipke F, Südkamp T, Prüßing J, Bougeard D, Bracht H (2020)
In: Journal of Applied Physics127.
Forschungsartikel (Zeitschrift)
Südkamp T., Hamdana G., Descoins M., Mangelinck D., Wasisto H., Peiner E., Bracht H. (2018)
In: Journal of Applied Physics123(16).
Forschungsartikel (Zeitschrift)
Hamdana G., Südkamp T., Descoins M., Mangelinck D., Caccamo L., Bertke M., Wasisto H., Bracht H., Peiner E. (2017)
In: Microelectronic Engineering179(null).
Forschungsartikel (Zeitschrift)
Hamdana G., Bertke M., Südkamp T., Bracht H., Wasisto H., Peiner E. (2017)
In:  (Hrsg.), SPIE.
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)
Kujala J., Südkamp T., Slotte J., Makkonen I., Tuomisto F., Bracht H. (2016)
In: Journal of Physics: Condensed Matter28(33).
Forschungsartikel (Zeitschrift)
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Promotionen

Characterization of atomic transport in nano-structured silicon and germanium to reveal properties of self- and foreign-atom defects
Promovend*in: Südkamp, Tobias | Betreuer*innen: Bracht, Hartmut
Zeitraum: bis 20.07.2018
Promotionsverfahren erfolgt(e) an: Promotionsverfahren an der Universität Münster