A pixel-by-pixel correcting autobalanced detector for SRS microscopy
Lemberger, Nick S.; Wallmeier, Kristin; Fallnich, Carsten
Abstract in Online-Sammlung (Konferenz) | Peer reviewedDetails zur Publikation
Name des Repositoriums: Proceedings of Focus on Microscopy 2024
Status: akzeptiert / in Druck (unveröffentlicht)
Veröffentlichungsjahr: 2024
Konferenz: Focus on Microscopy, Genua, Italien
Link zum Volltext: https://www.focusonmicroscopy.org/2024-program-online/?source=pp&event_id=5817&tab=pdf&a_id=7407
Stichwörter: balancierte Detektion, stimulierte Raman-Streuung
Autor*innen der Universität Münster
| Fallnich, Carsten | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Lemberger, Nick Sidney | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |
| Wallmeier, Kristin | Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich) |