ToF-SIMS Sputter Depth Profiling of Interphases and Coatings on Lithium Metal Surfaces

Mense Maximilian; Bela, Marlena; Kühn, Sebastian; Cekic-Laskovic, Isidora; Börner, Markus; Winter, Martin; Wiemers-Meyer, Simon; Nowak, Sascha

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

FachzeitschriftCOMMUNICATIONS CHEMISTRY
Jahrgang / Bandnr. / Volume8
Artikelnummer31
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2025
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
StichwörterLIBs; ToF-SIMS

Autor*innen der Universität Münster

Bela, Marlena Maria
Mense, Maximilian
Nowak, Sascha
Wiemers-Meyer, Simon
Winter, Martin