Namensgeber für den Förderpreis "SPIE-Franz Hillenkamp Postdoctoral Fellowship"

Grunddaten zur Preisverleihung

Art des Preises: Forschungspreis oder andere Auszeichnung
Verliehen von: Society of Photographic Instrumentation Engineers (SPIE)
Verliehen an: Hillenkamp, Franz
Bekannt gegeben am: 15.09.2017
Verleihung erfolgte am: 15.09.2017

Über die Preisverleihung

Erinnerung an einen weltweit renommierten Forscher der Universität Münster: Einen ungewöhnlich hoch dotierten Förderpreis hat die „Society of Photographic Instrumentation Engineers" (SPIE) jetzt nach dem Hochschullehrer Prof. Franz Hillenkamp benannt, der 2014 verstarb. Die „SPIE-Franz Hillenkamp Postdoctoral Fellowship" soll an die außergewöhnlichen Leistungen in dessen Fachgebiet, der medizinischen Physik, erinnern. Die in den USA ansässige Wissenschaftsgesellschaft SPIE vergibt die Förderung in Höhe von 75.000 US-Dollar ab 2018 jährlich an junge Postdoktoranden, deren interdisziplinäre Forschung neue Diagnose- und Therapiemethoden in der Medizin oder Biologie verspricht. SPIE schreibt den Preis weltweit aus und hat das Stipendium zusammen mit vier großen biomedizinischen Labors sowie der Familie Hillenkamp ins Leben gerufen.
Link zur Pressemitteilung der Universität Münster: https://campus.uni-muenster.de/en/medical-faculty/archived-news/newsdetails/posthume-ehrung-fuer-spitzenforscher-franz-hillenkamp/

Über den Preis

The fellowship honors Franz Hillenkamp's distinguished career as a researcher, teacher, and mentor who had an enormous international impact. A German scientist, he introduced the first medical laser applications laboratory and marked the genesis of translational research in biomedical optics in Europe in the 1970s. Established in 2017, the fellowship is a partnership between the Hillenkamp family, SPIE, and multiple international biomedical laboratories.
Art des Preises: Sonstige persönliche Ehrung oder Ernennung
Webseite des Preises oder Verleihers: https://spie.org/membership/career-hub/hillenkamp-fellowship
Zeitraum der Vergabe: seit 2017