Universität Münster
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Jens Falter

Für die Person sind keine aktuellen Zugehörigkeiten bekannt. Die Person ist nicht mehr an der Universität aktiv.

Publikationen

Long Jumps of an Organic Molecule Induced by Atomic Force Microscopy Manipulation
Langewisch G, Falter J, Schirmeisen A, Fuchs H (2014)
In: Advanced Materials Interfaces, 1(2). doi:10.1002/admi.201300013
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht
Calibration of quartz tuning fork spring constants for non-contact atomic force microscopy: direct mechanical measurements and simulations
Falter J, Stiefermann M, Langewisch G, Schurig P, Hölscher H, Fuchs H, Schirmeisen A  (2014)
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, 5, 507-516. doi:10.3762/bjnano.5.59
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht
Influence of the adsorption geometry of PTCDA on Ag(111) on the tip–molecule forces in non-contact atomic force microscopy
Langewisch G, Falter J, Schirmeisen A, Fuchs H (2014)
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, 5, 98-104. doi:10.3762/bjnano.5.9
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht
Field ion microscopy characterized tips in noncontact atomic force microscopy: Quantification of long-range force interactions
Falter J, Langewisch G, H. Hölscher, Fuchs H, Schirmeisen A  (2013)
In: Physical Review B, 87(11). doi:10.1103/PhysRevB.87.115412
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht
Forces During the Controlled Displacement of Organic Molecules
Langewisch G, Falter J, Fuchs H, Schirmeisen A (2013)
In: Physical Review Letters, 110(3). doi:10.1103/PhysRevLett.110.036101
Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed | Veröffentlicht

Projekte

SFB TRR 61 B07 - Charakterisierung funktioneller organischer Schichten durch hochaufgelöste Rasterkraftmikroskopie
Laufzeit: 01.07.2012 - 30.06.2017 | 2. Förderperiode
Gefördert durch: DFG - Sonderforschungsbereich
Art des Projekts: Teilprojekt in DFG-Verbund koordiniert an der Universität Münster
SFB TRR 61 B07 - Characterization of epitaxially assembled multi-layers of functional organic molecules by atomic force microscopy
Laufzeit: 06.06.2008 - 31.05.2012 | 1. Förderperiode
Gefördert durch: DFG - Sonderforschungsbereich
Art des Projekts: Teilprojekt in DFG-Verbund koordiniert an der Universität Münster

Promotionen

Field Ion Microscopy Characterized Tungsten Tips in Non-Contact Atomic Force Spectroscopy: Identification and Quantification of Interatomic Long Range Forces
Promovend*in: Falter, Jens | Betreuer*innen: Fuchs, Harald; Schirmeisen, André
Zeitraum: 01.08.2008 - 04.07.2013
Promotionsverfahren erfolgt(e) an: Promotionsverfahren an der Universität Münster